一、 品牌型號(hào)：日本MicroSupport Axis Pro系列
二、 儀器簡(jiǎn)介：
微區(qū)取樣儀是微區(qū)分析強(qiáng)有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測(cè)中，經(jīng)常會(huì)遇到微小待測(cè)物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時(shí)候待測(cè)位置難以采集信號(hào)必須將待測(cè)物取出，還有時(shí)會(huì)因?yàn)榇郎y(cè)物尺寸小于儀器檢測(cè)極限帶來許多難題，而微區(qū)取樣儀可以幫助用戶輕松解決。高精度的微區(qū)取樣儀通過鼠標(biāo)控制，全自動(dòng)、多角度、高效率的將微小待測(cè)物取出或暴露出來，便于用戶進(jìn)行下一步的儀器分析，該設(shè)備在微小樣品分析、異物分析、多層復(fù)合材料分析、及FIB制樣輔助領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用，尤其在顯示材料行業(yè)的質(zhì)量控制和產(chǎn)品研發(fā)中起到重要作用。
三、 產(chǎn)品概覽：
1. 功能全面
日本MicroSupport微區(qū)取樣儀可配套多種精密微工具對(duì)微米級(jí)的待測(cè)物進(jìn)行相應(yīng)處理，例如微探針可用于挑取表面上或微孔中的待測(cè)物、超聲波銑削工具可去除待測(cè)物表面的覆蓋層、微鑷子可夾取膠黏劑中的待測(cè)物、收集器可富集小于1μm的待測(cè)物、微切刀和真空吸取工具等可切取復(fù)合材料其中一層的待測(cè)物，甚至是給待測(cè)樣品做標(biāo)記、將FIB制備的樣品快速旋轉(zhuǎn)放置等處理，都可以在相應(yīng)的工具輔助下輕松完成，為后續(xù)檢測(cè)分析創(chuàng)造了條件。
2. 配置靈活
MicroSupport微區(qū)取樣儀為模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求靈活選擇配置方案，后續(xù)增加任何附件也十分便利，沒有任何后顧之憂。
3. 部件豐富
MicroSupport微區(qū)取樣儀擁有豐富的取樣和制樣工具可供選擇，各種材質(zhì)、各種外形、各種尺寸、各種功能，一應(yīng)俱全，可*無死角地解決微區(qū)分析中找樣難、取樣難、測(cè)樣難等問題。
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