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產品詳細頁
型號：LFA 467 HyperFlash
產品時間：2020/1/3 15:36:52
簡要描述：
無須更換檢測器或爐體， LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實現(xiàn) -100℃ 到 500℃ 的寬廣溫度范圍。加上種類十分豐富的可選配件，開創(chuàng)了熱物性測量的新天地。
一、產品簡介：
寬廣的溫度范圍，從 -100℃ 到 500℃
無須更換檢測器或爐體， LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實現(xiàn) -100℃ 到 500℃ 的寬廣溫度范圍。加上種類十分豐富的可選配件，開創(chuàng)了熱物性測量的新天地。
進樣器附有 16 個樣品位，樣品容納量為原來的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大優(yōu)勢是可以在整個溫度范圍內連續(xù)測量 16 個樣品，大大縮短了測量時間。液氮補給系統(tǒng)可以實現(xiàn)對檢測器與爐體的自動補充液氮，保證儀器全天候不間斷測量。
ZoomOptics 得到的測量結果更準確，減少測量誤差
技術的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測器的檢測范圍，從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測量結果的精度。
極高的采樣頻率（2MHz），特別適合于薄膜樣品
薄膜樣品及高導熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率，來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率，這是 LFA 系統(tǒng)*的。
二、技術參數(shù)：
● 溫度范圍：-100°C ... 500°C，單一爐體
● 非接觸式測量，IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程
● 數(shù)據(jù)采集速率：高達 2MHz（包括半升溫信號檢測，及 pulse mapping 技術）-- 對于高導熱及薄膜樣品，采樣時間（約為半升溫時間 10 倍）可低至 1ms，樣品厚度最薄可至 0.01 mm 以下（取決于具體的導熱系數(shù)）
● 熱擴散系數(shù)測量范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
● 導熱系數(shù)測量范圍：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
● 樣品尺寸：
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm（包括方形樣品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（樣品的厚度要求取決于不同樣品的導熱性能）
● 16 個樣品位的自動進樣器
● 20 多種支架類型
● 豐富的測量模式，適應各種類型的樣品。如各向異性材料，多層模式分析，薄膜，纖維，液體，膏狀物，粉末，熔融金屬，壓力下的測試，等等。
● Zoom Optics 優(yōu)化檢測器的檢測范圍（專利技術）
● 專利保護的 pulse mapping 技術（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脈沖寬度修正，可以提高比熱值的測量精度
● 氣氛：惰性、氧化性、靜態(tài)/動態(tài)、負壓
● 遵從如下標準: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
三、ZoomOptics 獲取更準確的測量結果，減小測量誤差
對于傳統(tǒng)的 LFA 系統(tǒng)設計，檢測器所覆蓋的檢測面積通常被調整為適合樣品的最大尺寸（25.4mm）。對于直徑較小的樣品，通常在樣品之上加上遮光片或遮罩，以盡可能地遮蔽外圍區(qū)域。但由于任何物體都會發(fā)射紅外輻射，遮光片或遮罩材料也不例外，由此得到的檢測器信號不可避免地會受到影響。該影響的程度大小與樣品與遮罩材料的熱擴散系數(shù)的差異有關。由此導致對于某些樣品，檢測器測得的溫度上升曲線的尾部可能出現(xiàn)持續(xù)上升，或者過早地達到水平狀態(tài)。不管是哪種情況，都會導致分析得到的半升溫時間發(fā)生偏移，由此計算得到的熱擴散系數(shù)產生誤差。
使用 LFA467 配備的 ZoomOptics（專利號：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）附件，可以更靈活地調整檢測器的檢測范圍，確保檢測器僅檢測到樣品上表面的溫度升高過程，無需額外的遮罩，周圍環(huán)境信號也沒有任何影響。預設的檢測直徑比率為 70%，適合于大多數(shù)應用，同時軟件允許操作者自由調整該數(shù)值，以適應特定的樣品尺寸與應用。